国产不卡一区,国产欧美精品一区二区三区影院,精品久久婷婷色,日韩综合另类

產品詳情

  • 產品名稱：雜質濃度測試儀 雜質濃度測試儀

  • 產品型號：KDB-1A
  • 產品廠商：同德
  • 產品文檔：
你添加了1件商品 查看購物車
簡單介紹：
雜質濃度測試儀 雜質濃度測試儀 根據硅、鍺單晶的遷移率、電阻率和雜質濃度的關系，可直接測量、計算出晶體內的雜質濃度雜質濃度測試儀 雜質濃度測試儀
詳情介紹：

雜質濃度測試儀 雜質濃度測試儀 

產品簡介
原理：根據硅、鍺單晶的遷移率、電阻率和雜質濃度的關系，可直接測量、計算出晶體內的雜質濃度。
適用范圍：它適合于測量橫截面尺寸是可測量的，而且棒的長度大于橫截面線度的有規(guī)則的長棒，例如橫斷面為圓形、正方形、長方形或梯形的單晶或多晶錠。
雜質濃度測試儀 雜質濃度測試儀 

用途：根據測量沿錠長雜質濃度的分布狀況決定產品的合格部分，通過雜質濃度的直接測量，決定晶體生長過程中的摻雜數量。
樣品可在常溫或低溫下測量。
顯示方式：儀器連接PC機，通過專用測試軟件計算，用對數坐標的方式來顯示雜質濃度（含次方數）沿錠長的分布曲線，可對曲線圖進行打印和保存。
測量范圍： 可測晶體電阻率：0.005-3000Ω·cm。
直流數字電壓表測量范圍：0-199.99mV，靈敏度：10μA

雜質濃度測試儀 雜質濃度測試儀 

* 請輸入您的名字，方便我們和您聯系
* 請輸入您的電話，方便客服及時解答您的問題
* 請輸入您詳情地址，方便詳細提供當地的市場訊息